高低溫試驗箱是測試芯片產(chǎn)品、電子產(chǎn)品和航空產(chǎn)品的常用儀器之一。事實上，提出這個問題的主要目的是清楚地了解型號是否能夠滿足要求。根據(jù)相關(guān)標準，樣品占試驗箱容量的1/3。為什么？讓小編仔細介紹一下原因！

　　原因1：如果樣品中樣品太多，氣體的循環(huán)速度會加快氣流和樣品之間的熱交換。在相關(guān)標準中，溫度環(huán)境試驗要求高低溫試驗箱中被測試樣周圍的空氣速度不得超過1.7m/s，為避免與實際情況不符的傳熱，箱內(nèi)平均風(fēng)速為0.6~0.8m/s，小于1m/s，當(dāng)規(guī)定的空間和面積比達到上述要求時，流場的風(fēng)速可以提高(50~100)%，平均風(fēng)速(1~1).7)m/s，符合規(guī)范要求。如果測試中被測產(chǎn)品的體積或迎風(fēng)斷口面積不受限制地增加，實際測試中風(fēng)流風(fēng)速會增加，測試結(jié)果的正確性會受到質(zhì)疑。

 

　　原因2：根據(jù)高低溫試驗箱的傳熱原理，箱壁附近的風(fēng)溫與流場中心溫差一般為2~3℃，高低溫限制，可達到50%℃。箱壁溫度與箱壁溫度相差2~3℃，此外，實驗溫度與外部大氣環(huán)境差異較大，因此距離箱壁(100~150)mm)兩者之間的空隙是不可用的。

 

　　原因3：設(shè)備箱內(nèi)環(huán)境參數(shù)的精度指標為空載狀態(tài)下的檢測結(jié)果。如果將產(chǎn)品添加到箱內(nèi)，高低溫試驗箱內(nèi)環(huán)境參數(shù)的均勻性將不可避免地受到影響。被測試產(chǎn)品占用的空間越大，影響就越嚴重。試驗結(jié)果表明，迎風(fēng)面與背風(fēng)面的溫差可達到3~8℃，嚴重時可達10℃上面。因此，為了保證被測產(chǎn)品周圍環(huán)境參數(shù)的一致性，必須盡可能滿足標準中規(guī)定的要求。